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了解晶閘管dv dt測試儀技術參數
點擊次數：559 更新時間：2018-01-05

雙向可控硅dv dt檢驗儀   形號：DBC-051 
1  慨述  
本檢測裝備是IGBT斷態電壓值臨介提升率dv／dt性能參數的考試裝備。符合 
于各方面高速IGBT，平常IGBT及雙邊IGBT的指標測試。本測試儀設計構思， 
框架合理的，使用簡易。其檢驗的原理符合要求GB4024-83要求的的規定。是電力網半導體行業 
元器件封裝 廠和適用部門zui為良好的的檢測主設備。  
2  工藝因素  
2.1 zui大檢驗打出電流值：2kV  
2.2 斷態電阻臨介升高率dv／dt量測區域：≤1000V／μs  
2.3 崗位環境  
電源開關：AC  220V±10%  50Hz  
室內溫度：0—40℃  
2.4 一整臺機器的工作電壓：超過100VA  
2.5 整套裝置體重：約15Kg  
2.6 機器長寬比：440×440×150mm 

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